Zobrazit minimální záznam

Study of the local structure of binary surfaces by electron diffraction (XPS, LEED)
dc.contributor.advisorMatolín, Vladimír
dc.creatorGereová, Katarína
dc.date.accessioned2017-03-30T17:06:16Z
dc.date.available2017-03-30T17:06:16Z
dc.date.issued2006
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.11956/7703
dc.description.abstractÚkolem diplomové práce bylo studium lokální struktury binárních povrchů, pro kterou jsme si zvolili tenkou vrstvu céru deponovaného na povrchu mono-krystalu Pd (111). Pro studium a zkoumání povrchu byly použity metody: fotoelektronová spektroskopie a difrakce (XPS, XPD), difrakce elektronů s nízkou energií (LEED) a úhlově rozlišená UPS (ARUPS). Těmito metodami lze zobrazit geometrické uspořádání povrchu, valenční pás, ale rovněž lze mapovat i pásovou strukturu a studovat tak elektronovou strukturu zkoumané látky. Takto získané informace poslouží k porozumění jevů, které se odehrávají na samotném povrchu.cs_CZ
dc.description.abstractStudy of local structure of binary surface with usage of ultra-thin film of cerium deposited on a Pd (111) single-crystal surface is presented. X-ray photoelectron spectroscopy and diffraction (XPS, XPD), angle resolved UV photoemission spectroscopy (ARUPS) and low energy electron diffraction (LEED) was used for our investigations. LEED and X-ray excited photoemission intensities results represent a surface-geometrical structure. As well, mapping of ultra-violet photoelectron intensities as a function of emission angles is used for a band mapping and an electronic structure determination.en_US
dc.languageČeštinacs_CZ
dc.language.isocs_CZ
dc.publisherUniverzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakultacs_CZ
dc.titleStudium lokální struktury binárních povrchů metodou fotoelektronové (XPD) a elektronové difrakce (LEED)cs_CZ
dc.typediplomová prácecs_CZ
dcterms.created2006
dcterms.dateAccepted2006-09-13
dc.description.departmentKatedra fyziky povrchů a plazmatucs_CZ
dc.description.departmentDepartment of Surface and Plasma Scienceen_US
dc.description.facultyFaculty of Mathematics and Physicsen_US
dc.description.facultyMatematicko-fyzikální fakultacs_CZ
dc.identifier.repId42111
dc.title.translatedStudy of the local structure of binary surfaces by electron diffraction (XPS, LEED)en_US
dc.contributor.refereePavluch, Jiří
dc.identifier.aleph001220613
thesis.degree.nameMgr.
thesis.degree.levelmagisterskécs_CZ
thesis.degree.disciplinePhysics of surfaces and ionized mediaen_US
thesis.degree.disciplineFyzika povrchů a ionizovaných prostředícs_CZ
thesis.degree.programPhysicsen_US
thesis.degree.programFyzikacs_CZ
uk.thesis.typediplomová prácecs_CZ
uk.taxonomy.organization-csMatematicko-fyzikální fakulta::Katedra fyziky povrchů a plazmatucs_CZ
uk.taxonomy.organization-enFaculty of Mathematics and Physics::Department of Surface and Plasma Scienceen_US
uk.faculty-name.csMatematicko-fyzikální fakultacs_CZ
uk.faculty-name.enFaculty of Mathematics and Physicsen_US
uk.faculty-abbr.csMFFcs_CZ
uk.degree-discipline.csFyzika povrchů a ionizovaných prostředícs_CZ
uk.degree-discipline.enPhysics of surfaces and ionized mediaen_US
uk.degree-program.csFyzikacs_CZ
uk.degree-program.enPhysicsen_US
thesis.grade.csVelmi dobřecs_CZ
thesis.grade.enVery gooden_US
uk.abstract.csÚkolem diplomové práce bylo studium lokální struktury binárních povrchů, pro kterou jsme si zvolili tenkou vrstvu céru deponovaného na povrchu mono-krystalu Pd (111). Pro studium a zkoumání povrchu byly použity metody: fotoelektronová spektroskopie a difrakce (XPS, XPD), difrakce elektronů s nízkou energií (LEED) a úhlově rozlišená UPS (ARUPS). Těmito metodami lze zobrazit geometrické uspořádání povrchu, valenční pás, ale rovněž lze mapovat i pásovou strukturu a studovat tak elektronovou strukturu zkoumané látky. Takto získané informace poslouží k porozumění jevů, které se odehrávají na samotném povrchu.cs_CZ
uk.abstract.enStudy of local structure of binary surface with usage of ultra-thin film of cerium deposited on a Pd (111) single-crystal surface is presented. X-ray photoelectron spectroscopy and diffraction (XPS, XPD), angle resolved UV photoemission spectroscopy (ARUPS) and low energy electron diffraction (LEED) was used for our investigations. LEED and X-ray excited photoemission intensities results represent a surface-geometrical structure. As well, mapping of ultra-violet photoelectron intensities as a function of emission angles is used for a band mapping and an electronic structure determination.en_US
uk.file-availabilityV
uk.publication.placePrahacs_CZ
uk.grantorUniverzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta, Katedra fyziky povrchů a plazmatucs_CZ
dc.identifier.lisID990012206130106986


Soubory tohoto záznamu

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

Tento záznam se objevuje v následujících sbírkách

Zobrazit minimální záznam


© 2017 Univerzita Karlova, Ústřední knihovna, Ovocný trh 560/5, 116 36 Praha 1; email: admin-repozitar [at] cuni.cz

Za dodržení všech ustanovení autorského zákona jsou zodpovědné jednotlivé složky Univerzity Karlovy. / Each constituent part of Charles University is responsible for adherence to all provisions of the copyright law.

Upozornění / Notice: Získané informace nemohou být použity k výdělečným účelům nebo vydávány za studijní, vědeckou nebo jinou tvůrčí činnost jiné osoby než autora. / Any retrieved information shall not be used for any commercial purposes or claimed as results of studying, scientific or any other creative activities of any person other than the author.

DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Theme by 
@mire NV