Investigation of electrical conductivity of thin films under influence of mechanical strain

Abstract

Magnetizácia antiferomagnetických štruktúr môže byť ovládaná elektricky alebo mechanicky. Pre správnu mechanickú manipuláciu bolo v tejto práci skonštruované špeciálne zariadenie. To bolo následne preskúšané a kalibrované na jednoduchých krížových štruktúrach na 30nm hrubých vrstvách kovov, porovnateľných s antiferomagnetickými štruktúrami na bežných substrátoch GaP a GaAs. Výsledkom tohto testovania bol prístroj použiteľný pre ďalšie merania.

Magnetization of atiferromagnetic devices can be manipulated electrically or mechanically. In order to do mechanical manipulation specialized device was constructed and tested with cross structure on three different thin metal layers comparable to antiferromagnetic devices on top of the most common substrates GaAs and GaP. Results of said testing proved machine is usable for intended purpose, with few tweaks.